光迅科技申请波的偏移量的确定方法、装置、设备和存储介质专利,提升了芯片的利用率

金融界2024年3月1日消息,据国家知识产权局公告,武汉光迅科技股份有限公司申请一项名为“波的偏移量的确定方法、装置、设备和存储介质“,公开号CN117639914A,申请日期为2022年8月。

专利摘要显示,本发明实施例提供一种波的偏移量的确定方法、装置、设备和存储介质。其中,所述方法包括:获取所述波在第一工作温度下的损耗数据;判断所述损耗数据是否满足预设指标的要求;在所述损耗数据满足所述预设指标的要求的情况下,基于所述损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量。通过获取所述波在第一工作温度下的损耗数据,结合所述损耗数据对应的所述预设指标的要求,确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量,根据所述目标偏移量筛选芯片,保证了成品合格率的同时,也提升了芯片的利用率。

本文源自金融界

发布于 2026-01-29
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